DIN EN 60749-4-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 12:38:32 浏览:8942
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part4:Dampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)(IEC60749-4:2002);GermanversionEN60749-4:2002
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
【标准号】:DINEN60749-4-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;半导体;试验;气候;元部件;电学测量;电子工程;气候试验;集成电路;半导体器件;环境试验;应力试验;湿热试验;电子设备及元件;机械试验
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofDINEN60749providesahighlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)forthepurposeofevaluatingthereliabilityofnon-hermeticpackagedsemiconductordevicesinhumidenvironments.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
【标准号】:DINEN60749-4-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;半导体;试验;气候;元部件;电学测量;电子工程;气候试验;集成电路;半导体器件;环境试验;应力试验;湿热试验;电子设备及元件;机械试验
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofDINEN60749providesahighlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)forthepurposeofevaluatingthereliabilityofnon-hermeticpackagedsemiconductordevicesinhumidenvironments.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:德语
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