GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
作者:标准资料网 时间:2024-04-29 17:08:53 浏览:9664
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基本信息
| 标准名称： | 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法 |
| 英文名称： | Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method |
| 中标分类： | 仪器、仪表 >> 试验机与无损探伤仪器 >> X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器 |
| ICS分类： | 试验 >> 无损检测 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2009-04-01 |
| 实施日期： | 2009-12-01 |
| 首发日期： | 2009-04-01 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 全国微束标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 钢铁研究总院、首钢技术研究院 |
| 起草人： | 方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2009-12-01 |
| 页数： | 12页 |
| 计划单号： | 20030761-T-469 |
适用范围
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
前言
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目录
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引用标准
ＧＢＷ（Ｅ）１３００１４ Ｘ 射线衍射硅粉末标准物质
ＧＢＷ（Ｅ）１３００１６ Ｘ 射线衍射仪校正用αＳｉＯ２ 标准物质
所属分类： 仪器 仪表 试验机与无损探伤仪器 X射线 磁粉 荧光及其他探伤仪器 试验 无损检测
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